Перейти на главную страницу
Увеличить изображение
Подложка GaAs
Русский English

::  О компании

Лаборатории АМФОРА является частной российской инновационной компанией. Сфера деятельности нашей компании - разработка и коммерциализация высокотехнологических проектов с использованием последних достижений оптики, лазерной техники и прецизионной механики на уровне нанотехнологий. Наши основные разработки направлены на решение проблемы сверхточного позиционирования и создание микроскопов нанометрового разрешения, а также технологических, метрологических и измерительных комплексов на их основе.

Лаборатории АМФОРА была создана группой разработчиков и инженеров в 2001 году, однако, основные принципы и ноу-хау, были проработаны еще в 1995-1997 годах. В этот же период были получены первые патенты.

Наша компания имеет статус научной организации и осуществляет полный цикл жизни проекта: начиная с теоретического обоснования инновационной идеи и заканчивая выпуском промышленных моделей. Уровень разработок компании полностью отвечает требованиям сегодняшнего дня в области нанотехнологий, и даже опережает их.

За время работы нашей в компании были разработаны и опробованы уникальные технологии: метод Модуляционной Интерференционной Микроскопии (МИМ) и оригинальный Cпособ бесконтактного перемещения с использованием магнитно-аэростатических узлов позиционирования. Эти технологии позволяют решать задачи в области нанотехнологий на качественно новом уровне.

Успешное решение задач невозможно без привлечения компетентных научных и инженерных кадров. В нашей компании сложилась команда профессионалов, имеющих богатый опыт в области лазерных технологий и точной механики. Наши сотрудники являются авторами более 20 патентов и более 50 научных статей по тематике разработок.

Многолетний опыт работы в области точной механики и лазерного приборостроения наших сотрудников гарантирует высокое качество, надежность и долговечность производимого оборудования.


....Разработанные специалистами «Лаборатории АМФОРА» уникальные измерительные устройства на базе технологии бесконтактной магнитно-аэростатической силовой наномеханики в сочетании с микроскопами МИМ несомненно являются прорывом в метрологическом приборостроении....

д.ф.-м.н., проф. Н.Ф.Бункин
Институт общей физики им. А.М. Прохорова РАН

© 2010 Лаборатории АМФОРА
разработка сайтов - SilverSite.ru