Увеличить изображение
Спора
РУС | ENG

::  Отзывы

ОТЗЫВЫ О ПРОЕКТАХ ЛАБОРАТОРИИ АМФОРА

…Разработанные ООО «Лаборатории АМФОРА» основные узлы бесконтактной магнито-аэростатической наномеханики в сочетании со свехрхразрешающими 3D микроскопами МИМ позволят создать новый класс метрологических приборов, удовлетворяющих современным требованиям нанометрологии. Демонстрируемые характеристики (разрешение, точность, воспроизводимость измерений) на порядок опережают характеристики лучших импортных аналогов. например метрологическая платформа МП-100 обеспечивает привязку нескольких измерительных зондов к единой координатной сетке размером 100*100*12 мм., с точностью позиционирования 3-5 нм, что является рекордом на рынке метрологического оборудования. Интерференционные микроскопы МИМ третьего поколения по функциональности и техническим характеристикам значительно превосходят лучшие оптические микроскопы и могут быть использованы, например, при работе с наноэталонами.

ФГУП Всероссийский Научно-Исследовательский Институт

Физико-Технических и Радиотехнических Измерений
Старший научный сотрудник Отделения акустооптических измерений
и лазерной оптоэлектроники к.ф.-м.н. Осадчий С.М.
04.08.2010

 

…В 2010 году ОАО «ВНИИНМ им.А.А.Бочвара» совместно с ООО «Лаборатории АМФОРА» провели поисковую работу по отработке методики и возможности использования технологии бесконтактной магнито-аэростатической силовой наномеханики в сочетании с микроскопом МИМ для оценки толщины буферных слоев MgO и YSZ на лентах ВТСП-2. Полученные предварительные результаты показали, что данное оборудование имеет ряд преимуществ по сравнению с АСМ и другими методами. …Специалисты нашего института заинтересованы в продолжении сотрудничества с ООО «Лаборатории АМФОРА» по оптимизации методики контроля и применении метрологического оборудования для решения широкого круга технологических задач в части аттестации качества тонкопленочных покрытий.

ОАО «ВНИИНМ им.А.А.Бочвара»
Первый заместитель директора В.К. Орлов
сентябрь 2010


…интерференционный микроскоп МИМ-320, производимый в «Лаборатории АМФОРА» удовлетворяет тем требованиям, которые мы предъявляем к оборудованию для успешного решения наших задач. Мы рассматриваем ООО «Лаборатории АМФОРА» как высоко вероятного поставщика измерительного оборудования для нужд нашего предприятия и готовы рассматривать возможность его приобретения.

Начальник голографической лаборатории
Научно-производственного объединения «КРИПТЕН»,
г. Дубна
А.В. Смирнов
2010


…Разработанные специалистами «Лаборатории АМФОРА» уникальные измерительные устройства на базе технологии бесконтактной магнитно-аэростатической силовой наномеханики в сочетании с микроскопами МИМ несомненно являются прорывом в метрологическом приборостроении. Достигнутые технические характеристики (разрешение, точность, воспроизводимость измерений) опережают характеристики лучших импортных аналогов.
…Применение микроскопов МИМ 2.1 и МИМ-320 позволило исследовать оптические свойства наноструктур с разрешением недоступным другим методам оптической микроскопии.
…Руководство НЦВИ ИОФ РАН крайне заинтересовано в применении метрологического оборудования ООО «Лаборатории АМФОРА» для решения широкого круга задач экспериментальной физики.

Институт общей физики им. А.М. Прохорова РАН
д.ф.-м.н., проф. Н.Ф.Бункин
2010


Исследования процессов кластеризации микропузырьков газа, растворенного в воде, на установке МИМ-2.1 продемонстрировало уникальные возможности данного прибора по регистрации фазовых микрообъектов и привело к открытию пространственной упорядоченности бабстонных кластеров.

Институт Общей физики им. А.М. Прохорова РАН
д.ф.-м.н, проф. Н.Ф.Бункин,
(статья по итогам измерений проведенных в 2005-2006 гг.
принята к печати в Physical Reveiw, серия E)


Измерения на установке МИМ-2.1 параметров шероховатости пластин сапфира (для последующего эпитаксиального наращивания нитрида галия), приготовленных по различным технологиям, позволили получить уникальную информацию о характеристиках поверхности этих образцов и выявило преимущества методов МИМ микроскопии в исследованиях такого рода по сравнению с измерениями на атомных силовых микроскопах.

Начальник научно-исследовательского отделения
фирмы Monocrystal, Ставрополь
В.С.Постолов
(по результатам измерений проведенных в декабре 2004 года)


... Мы весьма заинтересованы в сотрудничестве с Амфорой. ... Я обсуждал это (размеры рынка сбыта) с Педро и некоторыми из покупателей. Очевидно, что это рынок полупроводниковой и электронной промышленности, также как и рынок индустрии устройств хранения данных. Кроме того, это рынок университетов и исследовательских институтов. Здесь всюду Ваш микроскоп может использоваться как 3D профилометр. Кроме того, на рынке микроскопов его можно использовать как альтернативу электронным микроскопам.... В ряде случаев Ваша технология станет еще более подходящей после некоторой модификации прибора.

из письма вице-президента по технологиям KLA-Tencor д-ра Dan Wack (США)
Ноябрь 2004


…Достигнутые на прототипах показатели латерального пространственного разрешения порядка 15 нм и разрешения по высоте порядка 0,1 нм являются революционными для оптической микроскопии. В настоящее время в мире не существует альтернативных микроскопов, которые позволяли бы получать подобное сверхразрешение и данные об оптических материальных параметрах. Прибор превосходит ближайшие аналоги по техническим показателям на 1-3 порядка. При этом цена прибора более чем в 2 раза меньше современных микроскопов.

из письма Первому заместителю Министра Промышленности, науки и технологии Российской федерации
М. П. Кирпичникову:
«Об инвестиционном конкурсе по разделу «Научное приборостроение»»
В. В. Владимирский, член.- корреспондент РАН


Микроскоп МИМ-2.1 был разработан Амфорой как многоцелевой универсальный лабораторный прибор, который может работать с различными классами образцов. Если исследованию подлежат образца какого-то определенного класса (объекты материаловедения, живые жидкие биологические объекты, полупрозрачные поляризующие структуры и проч.), то данная модель микроскопа может быть модифицирована применительно к данному классу образцов. В этом случае результаты, полученные посредством МИМ микроскопии будут наилучшими.

Заключение руководства компании ATOS GmbH
по итогам презентации модели микроскопа МИМ-2.1 в Германии в январе 2004 года


…подход МИМ позволяет с весьма высоким пространственным разрешением, существенно превышающим разрешение оптических микроскопов, получать данные о геометрии рельефа объекта и о его материальных оптических параметрах. Уникальное сочетание высокого разрешения и чувствительности как к фазовым, так и к поляризационным эффектам позволяет технике МИМ получать данные о микрообъекте, которые принципиально недоступны при использовании других техник. Институт заинтересован в приобретении микроскопов МИМ, прогнозирует высокую маркетинговую актуальность микроскопов МИМ для подобных исследований и широкое практическое применение в различных биомедицинских методиках.

О перспективах МИМ-микроскопии для нанотехнологий, в биологии и медицине
Институт Химической Физики РАН,
декабрь 2003


Чувствительность прибора МИМ-2 к вертикальным перемещениям поверхности объекта в субнанометровом диапазоне и к эквивалентным изменениям оптической толщины объектов позволяет осуществлять ранее недоступные измерения механических процессов в живых биологических структурах. Они несут актуальную биологическую информацию, как сами по себе, так и за счет корреляции с явлениями электрохимической природы.

Саратовский Гос. университет
проф. В.В.Тучин, Мельников Л.М.


...мы еще раз хотим поблагодарить Вас за презентацию метода МИМ в Геттингене. Как мы уже сообщали по телефону, наше подразделение оптических микроскопов и микроэлектроники крайне заинтересовалось этим методом и склонно к кооперации, в которой Карл Цейсс получит исключительные права по осуществлению маркетинга Вашего метода.

Из эл.почты д-ра Мартина,
Компания Carl Zeiss, Германия 20.10.2000


© 2014 Лаборатории АМФОРА
разработка сайтов - SilverSite.ru