Увеличить изображение
Клетка крови
РУС | ENG

::  Нанометрология

 

Под термином «Нанометрология» понимается  совокупность средств и методов обеспечивающих измерение геометрических характеристик объекта контроля, отклонения от номинальных значений которых находится в диапазоне от 0 до 100 нм.  К таким характеристикам относятся погрешности формы изделия, погрешности расположения поверхностей и погрешности взаимного расположения поверхностей при перемещении одной детали относительно другой.

Продукция:

Метрологические платформы

Обеспечивают измерение 3D микро- и наногеометрии поверхности в единой координатной системе размером от 100х100х10 до 500х500х100 с точностью позиционирования 100 нм

   

 МП-100

 МП-300


 Система измерения шероховатости лазерных зеркал

Оригинальный инструмент для бесконтактного  измерения шероховатости поверхности сверхгладких зеркал в диапазоне от 0,2 до 1,0 нм с погрешностью 0,15 нм.

Подробнее >> 


Интерферометры для измерения характеристик линейных перемещений

Позволяют измерять основные параметры перемещения (координаты, непрямолинейность, неплоскостность) с разрешением до 1 нм. При установке в качестве системе обратной связи обеспечивают повышение точности до уровня 1 дискреты

Подробнее >>


Универсальный интерферометр для бесконтактного контроля формы сферических и асферический оптических поверхностей

 Контроль формы асферических поверхностей важен как в сравнительно простых системах, например, фотографических, не требующих предельной точности, так и в прецизионных телескопических, астрономических приборах, в прецизионных системах микрооптики, в комплексах для нанолитографии

Подробнее>>

 


Система измерения биений шпинделей

Биение шпинделя определяется радиальным и осевым смещением оси вращения ротора (вращающейся части) шпинделя. Измерение биения шпинделя неразрывно связано с разделением погрешности формы измеряемой поверхности и погрешности расположения оси вращения.

Подробнее>>

 

 

 

© 2014 Лаборатории АМФОРА
разработка сайтов - SilverSite.ru