Увеличить изображение
Тонкопленочный транзистор (TFT)
РУС | ENG

::  Интерферометр контроля формы оптических поверхностей

  

         

 

В интерферометре реализован оригинальный метод зонального контроля, разработанный специалистами ООО «Лаборатории АМФОРА». Высокая точность контроля формы (менее 10 нм) достигается за счет использования сверхплоских аэромагнитных направляющих для сканирования поверхности линзы вдоль оптической оси. Интерферометр позволяет контролировать детали как сферической, так и асферической формы, что в полной мере удовлетворяет требованиям оптической промышленности по функциональности точности  измерений.

По сравнению с традиционными интерферометрами в предлагаемых интерферометрах нет необходимости изготавливать  детали с образцовой поверхностью и не требует разработки и изготовления специальных компенсаторов для контроля асферических поверхностей.

            Малые габариты интерферометра и универсальность контролируемых параметров позволяют реализовать измерения формы без снятия детали со станка.


Принцип действия

Конструктивно интерферометр состоит из интерференционного блока, размещенного в 3-х координатной системе позиционирования на базе аэромагнитных направляющих с интерферометрическим контролем перемещения. Интерференционный блок  обеспечивает получение информации об измеряемой поверхности по кольцевым зонам. Сканирование  кольцевыми зонами по поверхности контролируемой детали осуществляется с помощью механической системы на аэромагнитных направляющих. Необходимая точность контроля на всей поверхности обеспечивается за счет прецизионного позиционирования интерференционного блока  и высокоточных измерений, включающих обработку интерферометрической информации по кольцевым зонам с использованием метода фазовых шагов.  

Шаг 1. Точная центровка относительно оптической оси

Шаг 2.  Расчет кольцевых зон

Шаг 3. Сшивка кольцевых зон

 


Особенности и преимущества

  • Точность контроля формы менее 10 нм;
  • Отсутствие необходимости использования образцовых поверхностей;
  • Отсутствие необходимости использования специальных компенсаторов для контроля асферических поверхностей;
  • Компактные размеры.

 Применение

  • Оптическая промышленность;

 

Частные задачи

  • Контроль качества линз камер мобильных устройств;
  • Контроль качества офтальмологической оптики (очки, контактные линзы искусственные хрусталики);
  • Микрооптика.

Спецификация

 

© 2014 Лаборатории АМФОРА
разработка сайтов - SilverSite.ru