Увеличить изображение
Подложка GaAs
РУС | ENG

::  Система измерения биений шпинделя

 

 

 

Описание

  Спецификация

  Габаритный чертеж

  Презентация (PDF)

 

            Система предназначена  для измерения осевых и радиальных биений аэростатических шпинделей точных станков с разрешением до 1 нм при частоте измерений до 12 кГц.

Конструкция системы позволяет работать как в контактном режиме (для шлифованных поверхностей) так и  в бесконтактном (для полированных поверхностей).   

Биение шпинделя определяется радиальным и осевым смещением оси вращения ротора (вращающейся части) шпинделя. Измерение биения шпинделя неразрывно связано с разделением погрешности формы измеряемой поверхности и погрешности расположения оси вращения. Решение этой задачи обеспечивается применением эталонной сферы (некруглость любого сечения которой  не превосходит 20 нм), закрепленной в регулируемом 4-х кулачковом специальном патроне на стенде.

Алгоритм обработки результатов измерения позволяет вычислить как величины радиального и осевого биения оси вращения шпинделя, так и значение фактической погрешности формы измеряемого сечения образцовой сферы, так и доверительный интервал случайной составляющей погрешности измерения.


Принцип действия

Система представляет собой лазерный интерферометр, работающий в режиме измерения перемещений. Высокая точность измерений достигается за счет оригинального алгоритма измерения фазы интерференционного сигнала. Применение современных модуляторов позволяет достичь частоты измерения до 12 кГц.


Особенности и преимущества

  • Оригинальная конструкция для работы в контактном и бесконтактном режимах;
  • Непревзойденное разрешение <1нм;
  • Высокое быстродействие 12 кГц;
  • Метрологическая достоверность измерений, суммарная погрешность превышает 10 нм.

Применение

  • Станкостроение;
  • Точное машиностроение.

 


Спецификация

 

Характеристика

Значение

1.

Способ измерений:

       для полированных поверхностей

       для шлифованных поверхностей 

 

Бесконтактный

Контактный

2.

Частота измерений,  кГц

12

3.

Разрешение, нм

1

4.

Диапазон измерений, мм

0-0,1

5.

Погрешность измерений, нм

Не более 10

6.

Максимальная частота вращения, об/мин

10 000

 

© 2014 Лаборатории АМФОРА
разработка сайтов - SilverSite.ru