Увеличить изображение
Метрологическая платформа МП-100
РУС | ENG

::  ТАК-2

 

 

Описание

  Спецификация

  Изображения и видео

  Презентация (PDF)

 

Сверхточный обрабатывающий комплекс для финишной обработки сферических и асферических поверхностей линз инфракрасной оптики с возможностью нанесения дифракционного рельефа.


Принцип действия

Основан на применении традиционных подходов алмазной резки и шлифовки на основе   сверхпрецизионных аэростатических шпинделей и сверхжестких аэромагнитных направляющих. Такое сочетание позволит существенно превзойти аналоги по точности формы и качеству поверхности обрабатываемой детали. Многоосевая конструкция станка позволяет реализовать различные режимы обработки, а также быстро менять инструмент. Применение современных средств контроля на основе методов лазерной интерферометрии позволит в реальном времени контролировать положение резца с нанометровой точностью, а также измерять шероховатость поверхности и отклонение формы детали от расчетного значения на различных этапах обработки. 


Особенности и преимущества

  • Лучшие характеристики точности обработанной детали, за счет более высокоточных и более жестких аэромагнитных направляющих и шпинделей.
  • Контроль детали на станке;
  • Адаптивная система управления приводами станка в процессе резания;
  • Метрологическая достоверность получаемых результатов.

 Применение

  • Оптическая промышленность;

 

 


Спецификация

 

Характеристика

Значение

1.

Максимальный диаметр обрабатываемой поверхности, мм

20-150

2.

Шероховатость Ra обработанной поверхности, нм

не более 40

3.

Погрешность формы, нм

не более 100 

4.

Система координат (двухкоординатная система ЧПУ)

полярная

5.

Дискретность управления по координатам:

Х, нм

Ф, угл. сек

 

10

0,02

 

 

© 2014 Лаборатории АМФОРА
разработка сайтов - SilverSite.ru